Производитель Номер продукта:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
Производитель:
Texas Instruments
Номер детали:
SN74BCT8374ANTG4-DG
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Подробное описание:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Инвентаризация:
1667859
Запросить котировку
Количество
Минимум 1
Минимум 1
(*) обязательно
Мы свяжемся с вами в течение 24 часов
Мы свяжемся с вами в течение 24 часов
ОТПРАВИТЬ
SN74BCT8374ANTG4 Технические характеристики
Категория
Логика, Специальная логика
Производитель
Texas Instruments
Упаковка
-
Серия
74BCT
Статус продукта
Obsolete
Тип логики
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Напряжение питания
4.5V ~ 5.5V
Количество бит
8
Рабочая температура
0°C ~ 70°C
Тип крепления
Through Hole
Упаковка / Чехол
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Комплект устройства поставщика
24-PDIP
Базовый номер продукта
74BCT8374
Технический паспорт и документы
Технические характеристики
Дополнительная информация
Стандартный пакет
60
Другие названия
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
Классификация окружающей среды и экспорта
Статус RoHS
ROHS3 Compliant
Уровень чувствительности к влаге (MSL)
1 (Unlimited)
Статус REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
ХИТСУС
8542.39.0001
Альтернативные модели
Номер детали
SN74BCT374N
ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
Texas Instruments
ДОСТУПНОЕ КОЛИЧЕСТВО
0
Номер части
SN74BCT374N-DG
ЕДИНИЧНАЯ ЦЕНА
4.14
Тип замещения
MFR Recommended
Сертификация DIGI
Связанные продукты
SY10EL16VKC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VKC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY100EP16VKG-TR
IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP
